Produktinfo
Logic Testing and Design for Testability
von Fujiwara, Hideo
MIT Press
9780262060967
Jahr: 1985
284 Seiten
gebundene Ausgabe
Bestellnummer: 2040410
Beschreibung
Der Erhaltungszustand des hier angebotenen Werks ist trotz seiner Bibliotheksnutzung sauber. Es befindet sich neben dem Rückenschild lediglich ein Bibliotheksstempel im Buch - ordnungsgemäß entwidmet. In ENGLISCHER Sprache.
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Petra Gros