Product Information
Logic Testing and Design for Testability
by Fujiwara, Hideo
MIT Press
9780262060967
year: 1985
284 Seiten
gebundene Ausgabe
order number: 2040410
description
Der Erhaltungszustand des hier angebotenen Werks ist trotz seiner Bibliotheksnutzung sauber. Es befindet sich neben dem Rückenschild lediglich ein Bibliotheksstempel im Buch - ordnungsgemäß entwidmet. In ENGLISCHER Sprache.
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Petra Gros