Adaptive Bayes'sche Stichprobensysteme für die Gut-Schlecht-Prüfung

Adaptive Bayes'sche Stichprobensysteme für die Gut-Schlecht-Prüfung
von Rendtel, Ulrich und Hans-Joachim Lenz
Physica-Verlag
Jahr: 1990
231 Seiten
Broschiert
Bestellnummer: 2324674

Beschreibung
Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten Bibliothek und kann die entsprechenden Kennzeichnungen aufweisen (Rückenschild, Instituts-Stempel...) - der Buchzustand ist ansonsten ordentlich und dem Alter entsprechend gut.