Produktinfo
Defect Control in Semiconductors: Proceedings of the International Conference on the Science and Technology of Defect Control in Semiconductors The Yokohama 21st Century Forum Yokohama, Japan, September 17-22, 1989 (2 vols.set/ 2 Bände KOMPLETT)
von Sumino, K.
Elsevier Science Ltd.
9780444884299
Jahr: 1990
1746 Seiten durchgehende Zählung
gebundene Ausgabe
Bestellnummer: 2094801
Beschreibung
Der Erhaltungszustand des hier angebotenen Werks ist trotz seiner Bibliotheksnutzung sehr sauber. Es befindet sich neben dem Rückenschild lediglich ein Bibliotheksstempel im Buch - ordnungsgemäß entwidmet. In ENGLISCHER Sprache. KOMPLETTPREIS für 2 Bände - bei Versand außerhalb der EU erfragen Sie bitte zuerst die Versandkosten
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Petra Gros