Der Einfluß von Fehlstellenagglomeraten auf die Erholung von Frenkeldefekten in Kupfer nach Elektronenbestrahlung bei 4.7 K

Der Einfluß von Fehlstellenagglomeraten auf die Erholung von Frenkeldefekten in Kupfer nach Elektronenbestrahlung bei 4.7 K
von Wienhold, P.
Kernforschungsanlage Jülich Gmbh
Jahr: 1977
72 Seiten
Broschiert
Bestellnummer: 1668412

Beschreibung
Der Erhaltungszustand des hier angebotenen Werks ist trotz seiner Bibliotheksnutzung sehr sauber. Es befindet sich neben dem Rückenschild lediglich ein Bibliotheksstempel im Buch - ordnungsgemäß entwidmet.