Produktinfo
Built-In Test For VLSI: Pseudorandom Techniques
von Bardell, Paul H., William H. McAnney and Jacob Savir
John Wiley & Sons
9780471624639
Jahr: 1987
354 Seiten
gebundene Ausgabe
Bestellnummer: 1586491
Beschreibung
Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten wissenschaftlichen Bibliothek und trägt die entsprechenden Kennzeichnungen (Rückenschild, Instituts-Stempel...) - Schnitt und Einband sind etwas staubschmutzig - der Buchzustand ist ansonsten ordentlich und dem Alter entsprechend gut. Text in ENGLISCHER Sprache!
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Petra Gros