Product Information
Charakterisierung von Oberflächeneigenschaften und mikrotribologischen Wechselwirkungen an Si- und SiC-Einkristallen mit dem Rasterkraftmikroskop
by Pöhlmann, K.
year: 2000
150 Seiten
Softcover-Großformat
order number: 1489484
description
Das hier angebotene Heft stammt aus einer teilaufgelösten wissenschaftlichen Bibliothek und trägt die entsprechenden Kennzeichnungen (Rückenschild, Instituts-Stempel...). Einband leicht staubschmutzig, ansonsten ordentlicher Erhaltungszustand
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Petra Gros