Produktinfo
New Horizons in Testing: Latent Trait Test Theory and Computerized Adaptive Testing
von Weiss, David J.
Academic Press Inc
9780127427805
Jahr: 1983
345 Seiten
gebundene Ausgabe
Bestellnummer: 2084110
Beschreibung
Der Erhaltungszustand des hier angebotenen Werks ist trotz seiner Bibliotheksnutzung sehr sauber. Es befindet sich neben dem Rückenschild lediglich ein Bibliotheksstempel im Buch - ordnungsgemäß entwidmet. In ENGLISCHER Sprache.
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Petra Gros