Optimierung eines automatischen Fuzzy-Klassifikator-Systems für lichtmikroskopische Defekte auf Logik-Wafern

Optimierung eines automatischen Fuzzy-Klassifikator-Systems für lichtmikroskopische Defekte auf Logik-Wafern
by Ruder, Thomas
year: 1996
43 Seiten
Softcover-Großformat
order number: 1615686

description
Das hier angebotene Heft stammt aus einer teilaufgelösten wissenschaftlichen Bibliothek und trägt die entsprechenden Kennzeichnungen (Rückenschild, Instituts-Stempel...) - Einband leicht lichtrandig - ansonsten ordentlicher Erhaltungszustand.