Untersuchung von Mikrorissen bei Wechselbeanspruchung durch Laserinterferometrie

Untersuchung von Mikrorissen bei Wechselbeanspruchung durch Laserinterferometrie
von Im, Sung-Woo
VDI Verlag
Jahr: 1990
123 Seiten
Broschiert
Bestellnummer: 1591650

Beschreibung
Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten wissenschaftlichen Bibliothek und trägt die entsprechenden Kennzeichnungen (Rückenschild, Instituts-Stempel...) - Schnitt und Einband sind etwas staubschmutzig - der Buchzustand ist ansonsten ordentlich und dem Alter entsprechend gut. Einbandkanten sind leicht bestoßen